인하대 연구팀, 테스트학술대회 최우수·우수논문상

[인천=뉴시스] 전예준 기자 = 인하대학교 이영우 전기컴퓨터공학과 교수 연구팀이 제27회 한국테스트학술대회에서 SK하이닉스 후원 최우수논문상과 우수논문상을 동시에 수상했다.

23일 인하대에 따르면 한국테스트학술대회는 한국반도체테스트학회가 매년 개최하는 국내 유일의 반도체 테스트 전문 학술대회다.

SK하이닉스, 삼성전자, LG전자 등 국내외 40여 개 기업이 후원하며 반도체 테스트 분야 최신 연구성과를 공유하는 국내 대표 학술행사다.

SK하이닉스 후원 최우수논문상은 박주현 전기컴퓨터공학과 석박사통합과정 학생(지도교수 이영우)의 'SoC 다중 클럭 IP 코어를 위한 패킷 기반 Scan Test 구조' 논문이 수상했다.

이 연구는 다중 클럭 칩 집적화(SoC) 환경에서 비동기 FIFO 기반 CDC 처리와 ID 기반 데이터 패킷 구조를 적용해 테스트 데이터의 안정적인 전달과 데이터 정합성을 확보한 기술이다.

우수논문상은 박근태 전기컴퓨터공학과 학생(지도교수 이영우)의 '패턴 다양성 향상을 위한 PRPG 및 Scan-In Bit 기반 LBIST 구조' 논문이 수상했다.

이는 패턴 다양성을 높인 LBIST 구조를 통해 100% 결함 커버리지를 달성하면서 전체 테스트 패턴 수를 최대 29.2% 감소시켰다.

이영우 교수는 "앞으로도 산업 현장에서 활용할 수 있는 반도체 테스트 기술 연구와 미래 반도체 인재 양성에 최선을 다하겠다"고 말했다.

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